Настольный сканирующий электронный микроскоп Hitachi TM-3000

Оформить заявку

Назначение прибора

Предназначен получения и обработки увеличенных (до x30000) изображений поверхности образцов в обратно отраженных электронах. Области применения: индивидуально-типологические особенности морфогеометрии поверхности; размер и форма частиц, зерен, включений; локальный микрорентгенофлуоресцентный (энергодисперсионныый) качественный, полуколичественный элементный (от B до U) анализ матрицы и включений; элементное картирование поверхности при различных увеличениях (от x15 до x30000).


Основные технические характеристики прибора

Области применения прибора

Метрологическое обеспечение для приборов и используемых методик

Требования к образцам исследования

Порошковый или компактный стабильный (без газовыделения, непылящий, невзрывоопасный) образец устойчивый к высокому вакууму и локальному нагреву электронным пучком. Размер образца высотой до 50 мм, до d=200 мм. Наилучшие результаты получаются для электропроводных образцов с плоскопараллельной основанию рабочей поверхностью.

Время необходимое на одно измерение

В зависимости от сложности пробоподготовки и навигации от 10 минут до нескольких суток.

Расходные материалы

В зависимости от сложности пробоподготовки: проводящий скотч, адгезив, спирт, столики, платина (золото) для напыления, аргон, эпоксидная смола, метилметакрилат, шлифовальные материалы, диафрагмы, катоды.

Форматы данных, выдаваемых прибором

В электронном виде. Изображения в формате JPEG и базы данных микрорентгеноспектрального анализа в формате BCF.

Процедура подачи образца на измерения

Услуги и их стоимость

Для НИР, проводимых ФИЦ КНЦ СО РАН, бесплатно с указанием проектов и структурногоподразделения, организации и т.д.

Типовая форма договора на оказание услуг

Контактная информация