Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 ADVANCE

Оформить заявку на измерения

Назначение прибора

Порошковый рентгеновский дифрактометр D8 ADVANCE измеряет зависимость интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных порошкообразными образцами, плёнками, стёклами, ориентированными монокристаллами и т.д., от угла дифракции 2θ при температурах от 130 до 720 K.

Предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа. Для качественного анализа используется банк данных порошковых рентгенограмм PDF-2 органических и неорганических соединений. Количественное соотношение фаз определяется в программе TOPAS 4.2 в результате уточнения методом Ритвельда (Рис.2).

Неизвестные соединения, порошковые рентгенограммы которых отсутствуют в базах данных, могут быть проиндицированы и параметры ячеек определены в программах ITO, WTREOR, TOPAS 4.2, DASH 3.3. Рентгенограмма однофазного соединения после успешного индицирования позволяет определить симметрию и структуру соединения (типы ионов/атомов и их взаимное расположение), а также провести её уточнение методом Ритвельда, построить модель электронной плотности кристалла с целью выявления беспорядка в структуре (Рис.3).

Температурная приставка TTK450 (фирмы ANTON PAAR) (Рис.4) позволяет проводить эти измерения в широком температурном диапазоне, таким образом можно устанавливать изменение симметрии, параметров ячеек и структуры при температурных фазовых переходах.

Полуширины измеренных рефлексов используются для определения размеров кристаллитов и микронапряжений в образце, а отношение интегральной интенсивности рефлексов к полной интенсивности рентгенограммы дает степень кристалличности образца.

Линейный детектор VÅNTEC-1 (Рис.5), которым снабжен дифрактометр, одновременно измеряет интенсивности всех точек в угловом диапазоне 8º. Это позволяет исследовать быстротекущие процессы в образце, например, его разложение при нагреве.

Рисунок 2. Разностная рентгенограмма в результате уточнения двух фаз
(NH4)3SnF7 и (NH4)2SnF6 методом Ритвельда в программе TOPAS 4.2.
Весовые доли фаз представлены в прямоугольнике на вставке.
Рисунок 3. Сечения электронной плотности для пяти образцов со
структурой эльпасолита через центральный квазиоктаэдр MeO3F3 (Me=W, Mo).
Элипсообразные контуры, соответствующие ионам O/F, указывают на их разупорядочение в структуре.
Температурная камера ТТК-450
Рисунок 4. Температурная камера ТТК-450.Рисунок 5. Линейный детектор VÅNTEC-1.

Основные технические характеристики прибора

Люминесцентный детектор регистрирует дифракционную картину рассеяния кристаллом рентгеновского излучения.

  • Используемое излучение: CuKα (40кВ на 40 мА);
  • Детектор: точечный или линейный VANTEC (захват интервала 2θ в 8°);
  • Типы возможных образцов: поликристаллы, керамика, пленки, полимеры, ситаллы, стекла;
  • Геометрия: Брегга-Брентано, максимально возможный угловой интервал –110º<2θ<167º;
  • Имеется температурная приставка Anton Paar TTK450. Интервал температур от 130 до 720 K.
  • Конфигурация: Θ–2Θ
  • Точность установки углов: 0,005°
  • Режим съёмки: Пошаговый или непрерывный
  • Режим работы трубки: 40 кв, 40 μа
  • Движение образца: Вращение (только без температурной приставки)
  • Держатель образца: Монокристаллическая кремниевая кювета
  • Возможность изменения внешних условий с указанием диапазона: Температурная приставка способна поддерживать любую температуру кристалла в интервале 100÷700 K

Области применения прибора

Химия, металлургия, геология, криминалистика, сверхпроводимость.

  • Исследование высоко- и низкотемпературных фазовых переходов в порошковых образцах. Результат
  • Поиск структур органических, неорганических и металлорганических соединений из порошка. Результат
  • Исследование эпитаксиальных плёнок (параметры ячеек, преимущественная ориентация, размеры кристаллитов). Результат

Требования к образцам исследования

  • Порошковые образцы для стандартных кювет должны быть хорошо перетертыми, со средним размером кристаллитов 50-100 мкм. Объем образца 0,2-0,5 см3. Порошок должен быть стабилен и не разлагаться как минимум в течении 2 часов.
  • Порошковые образцы для плоской кюветы приготавливается методом присыпки, и могут иметь объем меньше 0,2 см3. После эксперимента образец загрязняется вазелином и его практически невозможно вернуть исследователю назад.
  • Полимерные плёнки или эпитаксиальные плёнки должны иметь относительно ровную поверхность и площадь не менее 0,5 см2, максимальный линейный размер не более 3 см.
  • Монокристаллы для ориентирования должны иметь естественные грани или очень точно выверенные и гладко отполированные плоскости. Минимальный линейный размер 0,5 мм, максимальный 3 см.

Время, необходимое на одно измерение

  • предельное время установления рабочего режима: 1 час;
  • время непрерывной работы: неограниченно (9 часов для низкотемпературных экспериментов);
  • характерное время на одно измерение: 1 - 3 часа;
  • время исполнения заказа: 24 часа;
  • ед. измерения: час.

Расходные материалы

  • Жидкий азот для температурных исследований, литры (объём зависит от температуры и длительности эксперимента)

Форматы данных, выдаваемых прибором

  • Текстовый (Word-файл) и графический (jpg, tif, eps, bmp, etc.), графики в Origin
  • способы выдачи информации для заказчика:
    • флеш-память,
    • CD;
    • e-mail,
    • твердая копия

Процедура подачи образца на измерения

В случае недостаточности электронной заявки через сайт, должны быть указаны все контакты лиц принимающих решение о приёме образцов на измерение.

Услуги и их стоимость

  • Возможен ли допуск к самостоятельной работе на оборудовании (да, нет): нет
  • Порядок доступа к оборудованию для самостоятельной работы, после прохождения пользователем аттестации для работы на приборе: Доступ не предусмотрен

Контактная информация

Место расположения прибора:Институт физики СО РАН,
лаборатория кристаллофизики, каб. 1-89
Ответственный за приборВасильев Александр Дмитриевич
тел. 494507
e-mail: adva@iph.krasn.ru
Руководитель подразделенияЗайцев Александр Иванович
тел. 494425
e-mail: az@iph.krasn.ru
Заявки принимает Васильев Александр Дмитриевич
тел. 494507
e-mail: adva@iph.krasn.ru

Поделиться: