Центр коллективного пользования

Красноярского научного центра СО РАН

Универсальный рентгеновский дифрактометр Haoyuan Instrument Co., Ltd. DX-2700BH

Назначение прибора

Порошковый дифрактометр HAOYUAN DX-2700BH (Рис.1) измеряет зависимость интенсивности рентгеновских лучей рассеянных порошковыми образцами, плёнками, стёклами и ориентированными монокристаллами и т.д. от угла дифракции 2θ при температурах от 130 до 670 K. Предназначен для количественного и качественного рентгеноструктурного анализа. Для качественного анализа используется банк данных порошковых рентгенограмм PDF-2 органических и неорганических соединений. Количественное соотношение фаз определяется в программе TOPAS 4.2 в результате уточнения Ритвельда. Неизвестные соединения, порошковые рентгенограммы которых отсутствуют в базах данных, могут быть проиндицированы и параметры ячеек определены в программах ITO, WTREOR, TOPAS 4.2, DASH 3.3. Рентгенограммы однофазных соединений после успешного индицирования в дальнейшем позволяют определить симметрии и структуры соединений (типы ионов/атомов и их взаимное расположение), а также провести их уточнение методом Ритвельда, построить электронные плотности кристалла с целью выявления беспорядка в структуре. Температурная приставка TTK450 дает проводить эти измерения в широком температурном диапазоне, таким образом можно устанавливать изменение симметрии, параметров ячеек и структуры при температурных фазовых переходах. Полуширины измеренных рефлексов используются для определения размеров кристаллитов и микронапряжений в образце, а соотношение интегральных интенсивностей рефлексов к фону дает степень кристалличности порошка, стёкол, пленок.

Основные технические характеристики прибора

Используемое излучение: CuKα (40кВ на 40 мА);

Детектор: точечный, точечный энергодисперсионный или линейный;

Типы возможных образцов: поликристаллы, керамика, таблетки, пленки, полимеры, ситаллы, стекла;

Геометрия: Брегга-Брентано, максимально возможный угловой интервал 3º<2θ<167º;

Имеется температурная приставка TTK450. Интервал температур от 130 до 670 K.

Области применения прибора

1) Исследование высоко- и низкотемпературных фазовых переходов в порошковых образцах Пример 1

2) Поиск структур органических, неорганических и металлорганических соединений из порошка Пример 2

3) Исследование эпитаксиальных плёнок (параметры ячеек, преимущественная ориентация, размеры кристаллитов) Пример 3

Требования к образцам исследования

Порошковые образцы для стандартных кювет должны быть хорошо перетертыми, со средним размером кристаллитов 20-70 мкм. Объем образца 0,2-0,5 см3. Порошок должен быть стабилен и не разлагаться как минимум в течении 2 часов
Порошковые образцы для плоской кюветы приготавливается методом присыпки, и могут иметь объем меньше 0,2 см3. После эксперимента образец загрязняется вазелином и его практически невозможно вернуть исследователю назад
полимерные плёнки или эпитаксиальные плёнки должны иметь относительно ровную поверхность и площадь не менее 0,5см3, максимальный линейный размер не более 6см
монокристаллы для ориентирования должны иметь естественные грани или очень точно выверенные и гладко отполированные плоскости. Минимальный линейный размер 0,5мм, максимальный 6см.

Время, необходимое на одно измерение

Для любых температур в указанном диапазоне 100-720К:

предельное время установления рабочего режима, 1 час
время непрерывной работы, неограниченно (9 часов для низкотемпературных экспериментов)
характерное время на одно измерение 0.5-2 часа
время исполнения заказа 24 часа
сколько времени прибор работает на договорной основе (сторонние организации) –100-1000 часов;

Расходные материалы

не требуются

Форматы данных, выдаваемых прибором

Отчет выдается в формате Word на русском или английском языке. Пример приложен.

Процедура подачи образца на измерения

В случае недостаточности электронной заявки через сайт, должны быть указаны все контакты лиц, принимающих решение о приёме образцов на измерение.
Молокеев Максим Сергеевич – msmolokeev@mail.ru
Васильев Александр Дмитриевич – adva@iph.krasn.ru

Услуги и их стоимость

стоимость расходных материалов на одно измерение 0 руб;

стоимость одного измерения 1079.13 руб;

способ оплаты - заключение договора.

Контактная информация

Место расположения прибора:	г. Красноярск, Академгородок 50 стр.38, Институт Физики им. Л.В. Киренского, ФИЦ КНЦ СО РАН, лаборатория Кристаллофизики.
Ответственный за прибор	Молокеев Максим Сергеевич
Заявки принимает	1) Молокеев Максим Сергеевич; 2) Васильев Александр Дмитриевич тел. 8-950-437-17-72 e-mail:: msmolokeev@mail.ru; adva@iph.krasn.ru