Сканирующая зондовая микроскопия (более 40 методов) Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия Конфокальная рамановская микроскопия Конфокальный флуоресцентный анализ – изображение и спектроскопия Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) Зондово-усиленная рамановская/флуоресцентная спектроскопия (TERS, TEPL) Контролируемые условия измерений (температура, жидкость, электрохимическая среда) NTEGRA Spectra поддерживает большинство существующих режимов АСМ (более 40), и СТМ, предоставляя исчерпывающую информацию о физических свойствах образца с нанометровым разрешением: локальной топографии, жесткости, упругости, проводимости, емкости, намагниченности, поверхностном потенциале, трении, пьезоотклике и т.д. В измерительную головку могут быть установлены различные типы зондовых датчиков. Проведенные одновременно с СЗМ на одном и том же участке образца конфокальные фотолюминесцентные и рамановские измерения позволяют получить информацию о химическом составе образца, кристаллической структуре, ее ориентации и деформации, наличии примесей и дефектов, конформации макромолекул и т.д. Реализованные в NTEGRA Spectra три канала системы ввода/вывода излучения позволяют заводить на образец инициирующее лазерное излучение и собирать сигнал эмиссии сверху, сбоку, а также снизу. Все три оптических канала системы могут быть установлены как по отдельности, так и одновременно. NTEGRA Spectra в базовом варианте представляет собой конфокальный лазерный, рамановский и фотолюминесцентный микроскоп. Прибор обеспечивает визуализацию образца, фокусировку возбуждающего лазера на образец и сбор излучения эмиссии от образца. В микрорежиме съемка с картированием может осуществляться перемещением образца и/или перемещением фокуса лазера посредством гальванозеркал. Система в базовой конфигурации позволяет решать следующие экспериментальные задачи: оптическое изображение образца в белом свете с полным функционалом прямого либо инвертированного оптического микроскопа и высоким разрешением; 2D изображение поверхности образца в режиме лазерной конфокальной микроскопии; 3D послойное оптическое изображение прозрачного образца в режиме лазерной конфокальной микроскопии; поточечное спектральное 2D и 3D картирование сигнала комбинационного (рамановского) рассеяния; поточечное спектральное 2D и 3D картирование сигнала фотолюминесценции; время-разрешенные измерения карт фотолюминесценции; измерения спектров, картирование, и построение изображения образца с контролем поляризации падающего и собираемого излучения;
Образец должен иметь плоскую поверхность размером не менее 100х100 мкм.
| Место расположения прибора: | Институт физики, Лаборатория молекулярной спекртроскопии |
| Ответственный за прибор | Крылов Александр Сергеевич тел. e-mail: shusy @ iph.krasn.ru |
| Заявки принимает | тел. e-mail: |